Исследование двулучепреломляющих сред

Принципы измерений, основанные на искусственном двойном лучепреломлении.

1. Эффект Керра (квадратичный электрооптический эффект):

n0 – ne = E2*β*λ,

где β - постоянная Керра

a. Датчик электрического поля:

b. Определение типа вещества:

2. Эффект Поккельса (линейный электрооптический эффект):

n0 – ne =П*Е

где E – напряженность электрического поля;

П – постоянная Поккельса, определяемая соотношением П = n03 r

здесь r – показатель Поккельса; n0 – показатель преломления обыкновенного луча; ℓ - длина образца.

 

Таким образом E n03 r = n0 – ne

Поэтому

Откуда следует

3. Магнитооптический эффект:

n0 – ne = Кm*Н*ℓ

4. Оптико-механический эффект:

n0 – ne = Ком∙σ∙ℓ

где σ – механическое напряжение, которое создается в образцах.

.


44. Люминесцентно – поляризационный анализ

Метод основан на измерении поляризации люминесцентного излучения, которое определяется по формуле Левшина – Перрона:

,

где Р0 – состояние начальной степени поляризации;

τ – время жизни возбужденного состояния;

V – объем частиц;

Т – температура;

R – универсальная газовая постоянная;

μ – вязкость среды.

Из приведенной формулы следует:

Таким образом, удается определять параметры вещества:

a. τ – время жизни возбужденного люминесцентного объекта

b. V – объем люминесцирующих частиц.

c. μ – вязкость среды.

 


Измерение степени поляризации люминисцентного свечения проводится прибором, схема которого приведена на рисунке.

1 – источник излучения; 2 – монохроматор; 3 –люминесцирующий образец; 4 –спектральный элемент; 5 – поляроид, 6 -двигатель.

 

Если поляризатор вращается с частотой fВ, то динамика фотоответа выглядит как показано на рис.

Амплитуда колебаний на частоте fВ будет аналитическим сигналом. Метод широко используется при определении параметров растворов люминесцирующих веществ в микробиологии.

 

 

 

45. Эллипсометрия в исследованиях поверхностных слоев и пленок

Из основ оптики известно, что в падающем на поверхность раздела сред излучении ЕТЕ и ЕТН составляющие имеют коэффициенты отражения, и различные коэффициенты прохождения через границу раздела двух сред. Количественно эти параметры выражаются известными формулами Френеля:

;

.

;

Данные формулы позволяют определить параметры плеохроизма.

Параметры эллипса поляризации:

1) Ориентация оси эллипса

Δ = φ1 – φ2,

где φ1 – сдвиг фаз поляризации ЕТН;

φ2 – сдвиг фаз поляризации ЕТЕ.

2) Вытянутость эллипса ψ = arctg (ρТН / ρТЕ ),

где ρ – коэффициент отражения.

;

,

где

;

.

Тогда ,

где ,

Δ = φ1 – φ2

В результате анализа эллипсометрических параметров получают значения:

и Δ = φ1 – φ2 ,

Таким образом определяются приповерхностные свойства исследуемых материалов. Схема эллипсометра приводится ниже.

1 – источник когерентного излучения (лазер); 2 – поляризатор; 3 – объект исследования; 4 – компенсатор разности фаз поляризованного излучения;

5 – анализатор; 6 – оптическая система; 7 – приемник излучения; 8 – вычислительная техника для обработки сигнала.


46. Туннельная микроскопия и спектроскопия

Туннельные явления используют волновые свойства электронов, чем проявляют родство с оптическими волновыми явлениями. Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ) позволяет получать изображения поверхности на атомном уровне.

Квантовая частица описывается волновой функцией

,

где i – мнимая единица, р – квазиимпульс частицы.

Если имеется ступенчатый потенциальный барьер, высота которого Е0>W, то волна частично проходит через указанную границу.

Величина туннельного тока, пропорциональная числу прошедших через барьер частиц, экспоненциально зависит от расстояния:

,

где d – толщина зазора между зондом и поверхностью;

q – показатель ослабления, равный:

Туннельная спектроскопия основана регистрации величины туннльного тока, определяемого решением приведенных выше уравнений, относительно энергии поверхностных состояний, определяющих локальную высоту барьера |Е0 – W|.

Этот метод широко применяется при исследованиях микрообъектов.

В роли потенциального барьера в методе СТМ выступает зазор между остриём зонда (2) и проводящей поверхностью (1).

Зонд (2) управляется манипулятором (4) из пьезоэлектрика.

Устройство (7) перемещает зонд вдоль объекта. Если расстояние d меняется, то изменяется туннельный ток.

Контур обратной связи (5), вырабатывает сигнал, управляющий пьезо – манипулятором. Он несёт информацию о рельефе поверхности.