Дифракционная решётка.

 

Рассмотрим экран в котором проделано N отверстий (щелей) ширина каждого из которого D

Пусть источник излучения S находиться на большом расстояние от решётки. Определим волновую функцию в точке p лежащей в волновой зоне с другой стороны решётки.

Волновая функция в точке p будет равно сумме волновых функций от каждого отверстия решётки. То есть каждая отверстие решётки мы рассмотрим как источник излучения.

Повторяем выводы §2.5 находим

При определение амплитуды волновой функции в точке p

Необходимо учесть что каждый источник имеет конечный размер D и не является точечным, как в §2.5 . Для определения амплитуды излученя такого источника надо воспользоваться результатами §2.6, где была получена амплитуда

n=0

Положение главных максимумов определяет исследованиеи зависит от длины волны излучения за исключением центрального.

Это свойство дифракционной решётки позволяет определить спектральный состав излучения. Если источник испускает волны с различной длиной то с помощью дифракционной решётки можно найти длины этих волн, так как условие главного максимума :и волны различной длины будут наблюдаться под разными углами

Максимумы первого порядка будут определять спектр первого порядка излучения.

n=2 – второй порядок спектра

Релей предложил критерий различимости двух линий в спектре излучения линии излучения будем считать различными если главный максимум совпадает с ближайшим минимумом другой

- минимальный интервал длин волн, который можно различить с помощью дифракционной решётки.

-разрешительная способность.

 

§2.8 Принцип Гюйгенса – Фринеля.