Р о з д і л I
Приминение БОМ
Уступая СТМ и АСМ в разрешении, СБОМ имеет свою область применения в научных исследованиях. Кроме получения оптического изображения с высоким разрешением, это прежде всего локальная оптическая спектроскопия микроэлектронных, микробиологических и полупроводниковых объектов и модификация поверхности для сверхплотной записи информации и нанолитографии.
Заключение
Таким образом, в данном реферате были рассмотрены принципы работы основных типов зондовых микроскопов (сканирующего туннельного микроскопа, атомно-силового микроскопа), наиболее широко используемых в научных исследованиях. К сожалению, за рамками данного реферата остались другие приборы, работающие на принципах СЗМ, и большое количество исследовательских методик с применением зондовых микроскопов.
В настоящее время сканирующая зондовая микроскопия – это бурно развивающийся метод исследования поверхности с высоким пространственным разрешением и мощный инструмент для решения задач нанотехнологии – технологии создания приборных структур с субмикронными размерами.
Список литературы
1. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии. М.: Мир, 2004.
2. Кобаяси Н. Введение в нанотехнологию. М.: Бином, 2005.
3. http://www.nanometer.ru/2011/11/13/nanoazbuka_264154.html (Нанотехнологическое сообщество «Нанометр». «Инструменты нанотехнологий»; последнее обновление: 10 апреля 2013г.)
4. http://www.nanonewsnet.ru/blog/nikst/viktor-bykov-instrumenty-nanotekhnologii-segodnya-zavtra (Сайт о нанотехнологиях «Nanonewsnet». «Инструменты нанотехнологий сегодня и завтра»; последнее обновление: 10 апреля 2013г.)
5. http://www.rusnanonet.ru/equipment/ (Российская национальная нанотехнологическая сеть «Rusnanonet». «Инструменты нанотехнологий»; последнее обновление: 10 апреля 2013г.)
6. Суслов А. А., Чижик С. А. Сканирующие зондовые микроскопы Т.2 (1997).
7. http://ru.wikipedia.org/wiki/Сканирующий_зондовый_микроскоп («Сканирующие зондовые микроскопы»; последнее обновление: 18 января 2013г.)
ЗАГАЛЬНІ ПОЛОЖЕННЯ
Стаття 1. Визначення термінів
У цьому Законі наведені нижче терміни вживаються у такому
значенні:
Установа - центральний орган виконавчої влади, що реалізує
державну політику у сфері інтелектуальної власності; { Абзац
другий статті 1 в редакції Закону N 2188-III ( 2188-14 ) від
21.12.2000; із змінами, внесеними згідно із Законом N 5460-VI
( 5460-17 ) від 16.10.2012 }
Апеляційна палата - колегіальний орган Установи для
розгляду заперечень проти рішень Установи щодо набуття прав на
об'єкти інтелектуальної власності та інших питань, віднесених
до її компетенції цим Законом; ( Абзац третій статті 1 в редакції
Законів N 2188-III ( 2188-14 ) від 21.12.2000, N 850-IV ( 850-15 )
від 22.05.2003 )
інтегральна мікросхема (IMC) - мікроелектронний виріб
кінцевої або проміжної форми, призначений для виконання функцій
електронної схеми, елементи і з'єднання якого неподільно
сформовані в об'ємі і (або) на поверхні матеріалу, що становить
основу такого виробу, незалежно від способу його виготовлення;
топографія IMC - зафіксоване на матеріальному носії
просторово-геометричне розміщення сукупності елементів
інтегральної мікросхеми та з'єднань між ними;
автор - фізична особа, творчою працею якої створено
топографію IMC;
свідоцтво - документ, що підтверджує реєстрацію Установою
топографії IMC і засвідчує виключне право власності на цю
топографію IMC;
Реєстр - Державний реєстр України топографій IMC;
зареєстрована топографія IMC - топографія IMC, відомості про
яку занесено до Реєстру і на яку видано свідоцтво;
особа - фізична або юридична особа;
заявка - сукупність документів, необхідних для реєстрації
топографії IMC та видачі свідоцтва;
заявник - особа, яка подала заявку на реєстрацію топографії
IMC чи набула прав заявника в іншому встановленому законом
порядку; ( Абзац дванадцятий статті 1 із змінами, внесеними згідно
із Законом N 850-IV ( 850-15 ) від 22.05.2003 )
дата першого використання топографії IMC - дата, коли
використання топографії IMC стало відомим у галузі
мікроелектроніки;
роботодавець - особа, яка найняла працівника за трудовим
договором (контрактом);
державна система правової охорони інтелектуальної власності
- Установа і сукупність експертних, наукових, освітніх,
інформаційних та інших відповідної спеціалізації державних
закладів, що входять до сфери управління Установи; ( Статтю 1
доповнено абзацом згідно із Законом N 2188-III ( 2188-14 ) від
21.12.2000 )
заклад експертизи - уповноважений Установою державний заклад
(підприємство, організація) для розгляду і проведення експертизи
заявок. ( Статтю 1 доповнено абзацом згідно із Законом N 2188-III
( 2188-14 ) від 21.12.2000 )
Стаття 2. Повноваження Установи у сфері охорони прав на
топографії ІМС
1. Установа забезпечує реалізацію державної політики у сфері
охорони прав на топографії ІМС, для чого:
організовує приймання заявок, проведення їх експертизи,
приймає рішення щодо них;
видає свідоцтва на топографії ІМС, здійснює їх державну
реєстрацію;
забезпечує опублікування офіційних відомостей про
зареєстровану топографію ІМС;
здійснює міжнародне співробітництво у сфері правової охорони
інтелектуальної власності і представляє інтереси України з питань
охорони прав на топографії ІМС у міжнародних організаціях
відповідно до чинного законодавства;
{ Абзац шостий пункту 1 статті 2 виключено на підставі Закону
N 5460-VI ( 5460-17 ) від 16.10.2012 }
організовує інформаційну та видавничу діяльність у сфері
правової охорони інтелектуальної власності;
організовує науково-дослідні роботи з удосконалення
законодавства та організації діяльності у сфері правової охорони
інтелектуальної власності;
організовує роботу щодо перепідготовки кадрів державної
системи правової охорони інтелектуальної власності;
доручає закладам, що входять до державної системи правової
охорони інтелектуальної власності, відповідно до їх спеціалізації
виконувати окремі завдання, визначені цим Законом, Положенням про
Установу, іншими нормативно-правовими актами у сфері правової
охорони інтелектуальної власності;
здійснює інші повноваження відповідно до законів. { Абзац
одинадцятий пункту 1 статті 2 в редакції Закону N 5460-VI
( 5460-17 ) від 16.10.2012 }
2. Фінансування діяльності Установи провадиться за рахунок
коштів Державного бюджету України.
( Стаття 2 в редакції Закону N 2188-III ( 2188-14 ) від
21.12.2000 )
Стаття 3. Права іноземців та осіб без громадянства
1. Іноземці та особи без громадянства мають такі ж права, як
і передбачені цим Законом права громадян України, за винятками
тих, що встановлені міжнародними договорами України.
2. Іноземці та особи без громадянства, що проживають чи мають
постійне місцезнаходження поза межами України, у відносинах з
Установою реалізують свої права через представників у справах
інтелектуальної власності.