А) Опис за прізвищем авторів

1. Черепин В.Т., Васильев М.А. Методы и приборы для анализа поверхности материалов: Справочник. - К.: Наукова думка, 1982. – 400 с.

2. Новицкий П.В., Зограф И.А. Оценка погрешностей результатов измерений. - Л.: Энергоатомиздат, 1991. - 304 с.

3. Григоренко А.М. Некоторые вопросы теории технической информации.- М.: Издательство ЮБЕКС, 1998.-112 с.

http://grigam.narod.ru/inform/inf1.htm

4. Васильков Ю.В., Василькова Н.Н. Компьютерные технологии вычислений в математическом моделировании . – М.: Финансы и статистика, 1999. – 256 с.

Б) Опис за назвою книги

1. Структура і фізичні властивості твердого тіла: Лабораторний практикум: Навч. посібник /О.Г.Алавердова, О.В.Арінкін, О.Ф.Богданова та ін. За ред. Л.С.Палатника. - К.: Вища школа, 1992. - 311 с.: 175 іл.

2. Технология полупроводникового кремния /Э.С.Фалькевич, Э.О.Пульнер, И.Ф.Червоный и др. Под ред. Э.С.Фалькевича. – М.: Металлургия, 1992. – 408 с.

3. Рентгенотехника: Справочник. В 2-х кн. / Под. Ред. Клюева В.В. – М.: Машиностроение, 1980. – кн.1. – 431 с.

4. Рентгено - флуоресцентный анализ: Применение в заводских лабораториях / Под ред. Эрхарда Х.: Пер. с нем.- М.: Металлургия, 1985. – 256 с.

Статті

А) у наукових журналах

1. Палатник Л.С., Лукашенко Л.И., Золотницкий Ю.В., Авраменко Б.А. Влияние толщины “закритических” пленок пермаллоя на их доменную структуру // ЖЭТФ. -1979. - т. 59. - Вып. 10. - С. 1177-1187.

2. Лісник А.Г. Про природу магнітної анізотропії феромагнітних плівок // УФЖ. - 1962. - Т.7. - № 4. - С. 443-444.

3. Iwata T., Prosen R.J., Gran B.E. Perpendicular anisotropy of Ni and Fe films // J.Appl.Phys. - 1996.- V. 37. - № 3. - Р. 1285-1286.

4. Abbott P. H., Adams M. J. AXIS: Automated XRF Interpretation of Spectra // X‑ray spectrometry. - 1997. - Vol.26. - P.125-131.

5. Невдяев Л. Теория и практика цифровой обработки сигналов (по материалам международной конференции DSPA’98) // журнал “Сети”: Издательство “Открытые системы”.-1998.-№7-8.

http://www.osp.ru/nets/1998/07_08/92.htm

Б) у збірниках та книгах

1. Фраас Л., Занио К. Электронная структура межзеренных границ в поликристаллических полупроводниковых тонких пленках // В кн.: Тонкие поликристаллические и аморфные пленки: Физика и применения / Под ред. Л.Казмерски. – М.: Мир, 1983. – С. 162-182.

2. Разработка методик рентгеноспектрального определения элементов в шламах Ачинского глиноземного комбината /Розова О.Ф., Базыкина Е.Н., Смагунова А.Н. и др. // Аппаратура и методы рентгеновского анализа : сб. статей ЛНПО «Буревестник».– Вып.17.- Л.: Машиностроение, 1975. - С. 102-111.

3. Киттель Ч. Теория структуры ферромагнитных областей в пленках и малых частицах // В кн. Физика ферромагнитных областей. - М.: Иностранная литература, 1951. - С. 117-129.