Безопасность низкочастотного электромагнитного фона

Для оперативной оценки уровней суммарного общего фона по ЭМП на частотах 5 Гц … 2 кГц в ЛЭЭ ПГУТИ была разработана методика экспресс-анализа среднего уровня фона в закрытых помещениях, которая обеспечивает заданную метрологическую точность определения его значений при минимальном объеме измерений [2.10]. Суть методики экспресс-анализа состоит в измерении уровней ЭМИ по углам и в середине помещения с последующим определением среднего значения по указанным пяти результатам. За эталон для сравнения принимался усредненный результат измерения уровней ЭМИ на каждом 1 м² площади того же помещения. В таблицах 2.14-2.15 представлены результаты определения средних уровней напряженности электрического поля Е_ср; В/м, и плотности магнитного потока В_ср; нТл, в производственном помещении площадью 30 м² (таблица 2.14) и двух помещениях площадью по 50 м² (таблица 2.15).

Таблица 2.14. Результаты сравнительной оценки средних уровней ЭМП в закрытом помещении по эталонной методике и методике экспресс-анализа

Ситуация	Откл. все оборудование	Вкл. рубильник эл./сети	Вкл. блок питания ЭВМ	Вкл. все оборуд. незаземл.	Вкл. все оборуд. заземл.
Е_ср; В/м	3,0	22,7 (23,6)	26,0 (44,8)	17,4 (33,8)	14,1 (22,4)
В_ср; нТл	45,0	47,0 (52,0)	47,7 (54,0)	69,3 (132,0)	62,1 (108,0)

Из таблицы 2.14, где приведены результаты обработки 60 измерений по эталонной методике и предложенной методике экспресс-анализа (значения, приведенные в скобках), видно, что результаты определения уровней Е_ср и В_ср по обеим методикам близки друг к другу, если оборудование не включено и оценивается только общий фон по ЭМИ.

При включении в сеть блока питания ЭВМ, а затем и другого оборудования (ЭВМ, принтер, КМА и т.п.), изменяется неоднородность ЭМИ по напряженности электрического поля Е , следствием чего является различие между значениями Е_ср. Структура ЭМИ по плотности магнитного потока В при этом остается более равномерной, поэтому значения В_ср, найденные по обеим методикам, заметно лучше соответствуют друг к другу.

Количественную оценку указанной близости средних уровней ЭМП иллюстрируют результаты 48 измерений в первом производственном помещении (2 серии измерений) и 120 измерений во втором производственном помещении (2 серии измерений) по эталонной методике и методике экспресс-анализа, приведенные в таблице 2.15. Для каждого помещения и каждой серии измерений были найдены относительные погрешности определения средних уровней: – для Е_ср; В/м, и – для В_ср; нТл по методике экспресс-анализа, в процентах относительно результата по эталонной методике.

Таблица 2.15. Результаты сравнительной оценки средних уровней ЭМИ в закрытых помещениях по эталонной методике и методике экспресс-анализа

Номер помещения	Эталон	Первая серия	Вторая серия
Е_ср; В/м	В_ср; нТл	Е_ср; В/м	; %	В_ср; нТл	; %	Е_ср; В/м	; %	В_ср; нТл	; %
	16,6	56,9	12,6	24,0	54,0	5,0	13,4	19,0	52,0	8,5
	15,9	69,8	16,6	4,5	64,0	8,5	15,8	0,3	66,0	5,5

Как это видно из таблицы 2.15, средние значения погрешности = 12%; погрешности = 7%; их максимальные значения, соответственно, равняются 24% и 8,5%. Такую точность экспресс-анализа можно считать вполне достаточной для определения средних уровней ЭМП в закрытых помещениях площадью 20-60 м² (кабинеты, лаборатории, офисы, склады, конторские помещения и т.п.).

Таблица 2.16. Уровни ЭМИ в полосе частот 5 Гц … 2 кГц на компьютерном рабочем месте при отсутствии системы заземления

Ситуация	Откл. все оборудование	Вкл. провод блока питания ЭВМ	Вкл. блок питания ЭВМ	Вкл. ЭВМ	Вкл. ЭВМ с принтером
Е; В/м
В; нТл

Таблица 2.17. Уровни ЭМИ в полосе частот 5 Гц … 2 кГц на компьютерном рабочем месте при наличии временного заземления

Ситуация	Откл. все оборудование	Вкл. провод блока питания ЭВМ	Вкл. блок питания ЭВМ	Вкл. ЭВМ	Вкл. ЭВМ с принтером
Е; В/м
В; нТл

Методика экспресс-анализа прошла апробацию при обследовании более 80 производственных и жилых помещений, в которых размещаются ЭВМ, КМА и другие средства оргтехники, а также бытовая электро- и радиоэлектронная аппаратура. Было установлено, что в большинстве помещений средние уровни фона на частотах 5 Гц … 2 кГц превышают значения ПДУ, приведенные в НД [2.29]. В ряде случаев уровни фона соизмеримы с нормируемыми уровнями ЭМП на рабочих местах, что также объясняется отсутствием надежного заземления ЭВМ и КМА. В таблицах 2.16-2.17 представлены результаты измерения уровней ЭМП на компьютерном рабочем месте при отсутствии заземления (таблица 2.16) и при наличии временного заземления (таблица 2.17) в разных ситуациях.

Из сравнения между собой данных таблиц 2.16-2.17 видно, что наличие даже временного заземления в 4,8 раза снижает уровень напряженности электрического поля Е на рабочем месте (77 В/м и 16 В/м), тогда как на уровень плотности магнитного потока В заземление практически не влияет (230 нТл и 220 нТл).