Параметры логических элементов

 

Различают три основных метода испытаний интегральных микросхем: статические, динамические и стендовые (функциональные).

К статическим параметрам относятся: уровни входных и выходных напряжений и токов, соответствующие значениям логической единицы (U1вых, U1вх, I1вых, I1вх) и нуля (U0вых, U0вх, I0вых, I0вх); ток потребления при низком и высоком уровне выходного напряжения (I0пот,I1пот).

Статическая помехоустойчивость оценивается наибольшим напряжением помехи Uпом, действующей на входе, которое не вызывает ложного переключения элемента из «1» в «0» и наоборот. Помехоустойчивость можно определить по передаточной характеристике – зависимости выходного напряжения от входного.

Средняя потребляемая мощность определяется, как мощность, равная полусумме потребляемых мощностей от источника питания в двух различных устойчивых состояниях.

Коэффициент разветвления по выходу (нагрузочная способность), численно равен количеству входов аналогичных элементов, которые можно подключить к его выходу без нарушения его работоспособности,

Коэффициент объединения по входу равен числу входов элемента.

Динамические параметры характеризуют быстродействие интегральной схемы и ее устойчивость к воздействию импульсных помех. Динамические параметры определяются по переходной характеристике элемента «НЕ». Необходимо учесть, что «лог. 0» и «лог. 1» определяются по уровням 0,1Um и 0,9Um (рисунок 1.3.3.1.)

Основными динамическими параметрами являются:

−время задержки включения;

−время задержки выключения;

-время задержки распространения сигнала при включении;

−время задержки распространения сигнала при выключении;

−время включения;

−время выключения.

 

Рисунок 1.3.3.1.