Влияние кривизны Земли и рефракции на результаты нивелирования
На рис. 9.8 а, б показаны: точка 1 – отсчет по рейке В в том случае, если бы луч света распространялся прямолинейно; точка 2 – фактический отсчет по рейке; точка 3 – место пересечения рейки уровенной поверхностью.
Из треугольника DO1I (рис. 9.8 б) имеем (R + Dh)2 = d2, где R - радиус Земли и d – расстояние до рейки. Следовательно, кривизна Земли изменяет отсчет по рейке на величину Dh» d2¤ (2R).
Радиус кривизны светового луча равен R/ k, где – k коэффициент рефракции. Поэтому аналогично предыдущему получаем r» kd2¤ (2R).
Совместное влияние кривизны Земли и рефракции равно
f = Dh - r = .
В среднем в земной атмосфере k = 0,14. При этом f = . Так, если d = 300 м, то f = 6 мм.
а) | б) |
Рис. 9.8. К влиянию кривизны Земли и рефракции: а - схема влияния (I – нивелир, B – рейка); б – кривизна Земли и расстояние d до рейки. |
При нивелировании из середины влияние кривизны Земли полностью, а влияние рефракции в значительной степени нейтрализуется.
Вблизи к земной поверхности рефракция значительно возрастает, поэтому высоту луча визирования менее 0,2 м не допускают.