Метод порошков (поликристаллов)

Метод порошков является основным методом исследования технических материалов и широко применяется в практике. Исследуются образцы из поликристаллического вещества или порошка, состоящего из большого числа мелких (< 10-2 мм) кристаллитов (зерен), имеющих произвольную ориентацию в пространстве. В методе порошка Рис.2.15 пучок монохроматического или характеристического рентгеновского излучения падает на заключенный в тонкостенную капиллярную трубку образец в виде мелкого порошка. Удобство метода состоит в отсутствии необходимости использования монокристаллических образцов. Падающие лучи отражаются от тех кристаллитов, которые по отношению к направлению падающего пучка оказываются ориентированными так, что соответствующий угол удовлетворяет условию Брэгга.

РИС.2.15. Съемка на цилиндрическую пленку:

а) камера, используемая для рентгеновской дифракции в методе порошка;

б) интерференционная линия на развернутой пленки.

 

На Рис.2.15а показана камера, используемая в методе порошка с обычным (симметричным) способом зарядки пленки. Пучок первичных лучей проходит через диафрагму, для выхода пучка из камеры в пленке делают отверстие. Интерференционная картина представляет собой систему коаксиальных конусов, осью которых является первичный луч. Для регистрации интерференционной картины в методе порошков используют несколько способов расположения пленки по отношению к образцу и первичному пучку рентгеновских лучей: съемка на плоскую, цилиндрическую Рис.2.15 и конусную фотопленку. Регистрация также может производиться с помощью счетчиков. Для этой цели используют рентгеновские дифрактометры. Расчет порошковых рентгенограмм приводится ниже.

Мы рассмотрели физические основы дифракции рентгеновских лучей, на основании которых можно, измеряя экспериментально углы дифракционных максимумов:

1. Определить длину волн, отвечающих этим максимумам, при условии, что известно межплоскостное расстояние

2. Определять межплоскостное расстояние, если известны длины волн, отвечающие дифракционным максимумам.