Задание

1. Ознакомиться с техническим описанием измерительного стенда.

2. Определить удельное сопротивление образцов. Измерения проводить в

центре образцов в нескольких точках.

3. Провести измерения удельного сопротивления вблизи границы. Объяс-

нить результаты измерений удельного сопротивления.

Список литературы

1. Елисеев А.А., Лукашин А.В. Функциональные наноматериалы. / Под ред. Ю.Д. Третьякова. – М.: ФИЗМАТЛИТ. 2010. - 452 с.

2. Евдокимов А.А. и др. (под ред. А.С. Сигалова) Получение и исследование нано-структур: лабораторный практикум по нанотехнологиям – / М: БИНОМ Лабора-тория знаний, 2010. – 146 с.

3.Суздалев И.П. Нанотехнологии: Физико-химия нанокластеров, нано-структур и наноматериалов. – Эдиториал УРСС. 2006.

Дополнительная

1. Л.П. Павлов. Методы определения основных параметров полупровод-

никовых материалов. Москва: - Высшая школа, 1987. - 239 с.

2. Техническое описание прибора «4-х зондовый измеритель сопротивления «ВИК-УЭС — 24». Москва. РИИС. – 2010.

Лабораторная работа № 3

Исследование оптических свойств однослойных УНТ

Цель работы: ознакомиться с оптическими методами исследования свойств однослойных УНТ.

Содержание:

1. Введение

2. ИК-спектроскопия как метод исследования УНТ

3. Оптическое поглощение

4. Порядок выполнения работы

5. Контрольные вопросы

6. Список литературы

 

Введение