Электрический пробой
При движении через p-n переход под действием электрического поля неосновные носители заряда приобретают достаточную энергию для ионизации атомов решетки.
Пройдя через p-n переход и двигаясь с большой скоростью внутри полупроводника, электроны сталкиваются с нейтральными атомами и ионизируют их.
В результате ударной ионизации появляются новые свободные электроны и дырки, которые в свою очередь, разгоняются полем и создают возрастающее количество носителей заряда.
Этот процесс носит лавинообразный характер и приводит к значительному увеличению обратного тока при постоянном обратном напряжении (обратная ветвь ВАХ p-n перехода, рис.5.4).
Возможны два типа электрического пробоя: лавинный пробой и туннельный пробой
Рис. 5.4 Пробой p-n перехода
Лавинный пробойобычно развивается в достаточно широких p-n переходах.
В тонких р-n переходах при большой напряженности электрического поля развивается туннельный пробой.
Электрический пробой обратим, первоначальные свойства p-n перехода полностью восстанавливаются, если отключить источник э.д.с. от перехода. Электрический пробой используют в качестве рабочего режима в диодах-стабилитронах.